Multiple distributions for based random test patterns
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1990 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 127790 |
| Erscheinungsvermerk | IEEE trans. on computer-aided design of integrat. circuits and syst. 9 (1990) S. 594-602. |