Bestimmung kurzer Testmusterfolgen beim Selbsttest mit Akkumulatoren
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1997 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 128097 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. 9. GI/ITG/GMM-Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen", Bremen 1997. S. 53-56. (Technische Berichte. 1997,1.) |