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Test length reduction for accumulator-based self-test

Mayer, Frank; Stroele, Albrecht P.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 128197
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. International Symposium on Circuits and Systems, ISCAS-97, Hongkong 1997. S. 2705-2708.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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