Testzeitverkürzung beim Selbsttest mit Akkumulatoren
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1997 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 128297 |
| Erscheinungsvermerk | In: Entwurf integrierter Schaltungen. 8. E.I.S.-Workshop, Hamburg 1997. Hrsg.: L. Peters. Sankt Augustin 1997. S. 77-86. (GMD-Studien. 318.) |