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Combining a scanning near-field optical microscope with a picosecond streak camera: statistical analysis of exciton kinetics in GaAs single quantum wells

Neuberth, Ulrich; Walter, Lars; Freymann, Georg von; Dal Don, Benedicte; Kalt, Heinz; Wegener, Martin; Khitrova, G.; Gibbs, H.M.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/12842002
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
urn:nbn:de:swb:90-AAA128420027
KITopen-ID: 12842002
Erschienen in Applied Physics Letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 80
Heft 18
Seiten 3340-3342
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