Combining a scanning near-field optical microscope with a picosecond streak camera: statistical analysis of exciton kinetics in GaAs single quantum wells
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0003-6951 urn:nbn:de:swb:90-AAA128420027 KITopen-ID: 12842002 |
| Erschienen in | Applied Physics Letters |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 80 |
| Heft | 18 |
| Seiten | 3340-3342 |