Methods to reduce test application time for accumulator-based self-test
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1997 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 128997 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA 1997. S. 48-53. |