A new method of agglomerate characterization by image analysis

Schulze, Stefan; Gutsch, Andreas; Stahl, Werner; Umhauer, Heinz

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	1995
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 132995
Erscheinungsvermerk	In: Preprints. Partec '95, 6th European Symposium Particle Characterization, Nürnberg 1995. S. 101-111.