Elektromagnetische Rueckwirkung der Messumgebung in der EMV Mess- und Prueftechnik
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 135293 |
| Verlag | Universität Karlsruhe (TH) |
| Erscheinungsvermerk | Fak. f. Elektrotechnik, Diss. v. 13.12.1993. |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik (Fak. für Elektrotech.) |
| Institut | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Prüfungsdaten | Diss. v. 13.12.1993 |