The application of secondary ion mass spectrometry (SIMS) to the study of high temperature proton conductors (HTPC)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1997 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 135997 |
| Erscheinungsvermerk | Solid state ionics 97 (1997) H. 1/4 S. 409-419. |