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Warum alles kaputt geht. Form und Versagen in Natur und Technik. The face of failure in nature and engineering

Mattheck, C.; Bethge, K.; Tesari, I.; Kürschner, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Buch
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 140055459
HGF-Programm 11.03.01 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Karlsruhe : Forschungszentrum Karlsruhe GmbH, 2003 (engl.ed. 2004)
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