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Qualitätsmerkmal 'Technische Sicherheit'

Eschenfelder, D.; Gelfort, E.; Graßmuck, J.; Keller, H.B.; Langenbach, C.; Lemiesz, D.; Otremba, F.; Pilz, W.D.; Rath, R.; Schulz-Forberg, B.; Wilpert, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Buch
Jahr 2010
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-931384-68-5
KITopen ID: 140080018
HGF-Programm 34.02.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Eine Denkschrift des Vereins Deutscher Ingenieure Düsseldorf : VDI-Verl., 2010 inkl.CD-ROM
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