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The low temperature symmetry change of C60: a high resolution X-ray diffraction investigation

Willart, J.F.; Carpentier, L.; Descamps, M.; Krane, Hans Georg; Sauvajol, J.L.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kristallographie (Inst. f. Kristallograph.)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 140599
Erscheinungsvermerk Solid state commun. 101 (1997) S. 319-321.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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