The low temperature symmetry change of C60: a high resolution X-ray diffraction investigation

Willart, J. F.; Carpentier, L.; Descamps, M.; Krane, Hans Georg; Sauvajol, J. L.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Fakultät für Physik – Institut für Kristallographie (Inst. f. Kristallograph.)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1999
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 140599
Erscheinungsvermerk	Solid state commun. 101 (1997) S. 319-321.