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TEM investigation of beta--FeSi2/Si(100) heterostructures grown by gas source molecular beam epitaxy

Dieker, Christel; Gerthsen, Dagmar; Freundt, Dirk; Rösen, Benedikt; Rizzi, Angela; Lüth, Hans



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 142494
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the 13th International Conference for Electron Microscopy, Paris 1994. Vol. 2A. S. 643.
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