TEM investigation of beta--FeSi2/Si(100) heterostructures grown by gas source molecular beam epitaxy

Dieker, Christel; Gerthsen, Dagmar; Freundt, Dirk; Rösen, Benedikt; Rizzi, Angela; Lüth, Hans

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	1994
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 142494
Erscheinungsvermerk	In: Proceedings of the 13th International Conference for Electron Microscopy, Paris 1994. Vol. 2A. S. 643.