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Control-path oriented verification of sequential generic circuits with control and data path

Schneider, Klaus; Kropf, Thomas; Kumar, Ramayya



Zugehörige Institution(en) am KIT Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Sonderforschungsbereich 358 (SFB 358)
Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 144294
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. The European Design and Test Conference, Paris, France 1994. Ed.: J.-P. Tual. Los Alamitos, Calif. 1994. S. 648-652. und Karlsruhe : Inst. f. Rechnerentw. u. Fehlertoleranz, Univ. Karlsruhe 1994. (Tech. Rep. SFB358-C2-9/94.)
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