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Test signal description for design and test

Sax, Eric; Tanurhan, Yankin; Mueller-Glaser, Klaus D.; [u.a.]



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 144395
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. International Mixed Signal Testing Workshop, Grenoble, France 1995. S. 130-134.
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