Test signal description for design and test

Sax, Eric; Tanurhan, Yankin; Mueller-Glaser, Klaus D.; [u. a.]

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	1995
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 144395
Erscheinungsvermerk	In: Proceedings. International Mixed Signal Testing Workshop, Grenoble, France 1995. S. 130-134.

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