Fault probabilities in routing channels of VLSI standard cell designs
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 144594 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. 12th IEEE VLSI Test Symposium, Cherry Hill, New Jersey, USA 1994. Ed.: IEEE Computer Society Press. S. 340-347. |