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Fault probabilities in routing channels of VLSI standard cell designs

Spiegel, Gerald



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 144594
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. 12th IEEE VLSI Test Symposium, Cherry Hill, New Jersey, USA 1994. Ed.: IEEE Computer Society Press. S. 340-347.
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