| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 144694 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. ATS-94. Asian Test Symposium, Nara, Japan 1994. Ed.: IEEE. S. 268-273. |