KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

A unified method for assembling global test schedules

Ströle, Albrecht; Wunderlich, Hans-Joachim


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 144694
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. ATS-94. Asian Test Symposium, Nara, Japan 1994. Ed.: IEEE. S. 268-273.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page