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A unified method for assembling global test schedules

Ströle, Albrecht; Wunderlich, Hans-Joachim



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 144694
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. ATS-94. Asian Test Symposium, Nara, Japan 1994. Ed.: IEEE. S. 268-273.
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