Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
Publikationstyp | Buchaufsatz |
Publikationsjahr | 1994 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 144794 |
Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. International Test Conference, ITC, Washington D.C., USA 1994. Ed.: IEEE Computer Society Press. S. 939-948. |