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| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 144794 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. International Test Conference, ITC, Washington D.C., USA 1994. Ed.: IEEE Computer Society Press. S. 939-948. |