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Ströle, Albrecht; Wunderlich, Hans-Joachim



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 144794
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. International Test Conference, ITC, Washington D.C., USA 1994. Ed.: IEEE Computer Society Press. S. 939-948.
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