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Goodness-of-fit tests for the exponential and the normal distribution based on the integrated distribution function

Klar, Bernhard


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Mathematik – Institut für Mathematische Stochastik (Inst. f. Math. Stochastik)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0020-3157
KITopen-ID: 14582001
Erschienen in Annals of the Institute of Statistical Mathematics
Verlag Springer
Band 53
Heft 2
Seiten 338-353
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