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Goodness-of-fit tests for the exponential and the normal distribution based on the integrated distribution function

Klar, Bernhard



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mathematische Stochastik (Inst. f. Math. Stochastik)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0020-3157
KITopen-ID: 14582001
Erschienen in Annals of the Institute of Statistical Mathematics
Verlag Springer
Band 53
Heft 2
Seiten 338-353
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