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Faster contrast measurement of LCDs with improved conoscopic methods

Fritsch, Michael W.; Mlynski, Dieter A.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Theoretische Elektrotechnik und Meßtechnik (Inst. f. Theoret. Elektrotech. u. Meßtech.)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1991
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 147491
Erscheinungsvermerk Proc. of the SID 32 (1991) S. 207-211.
Bemerkung zur Veröffentlichung Sonderdrucknummer 92S129
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