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ARXPS analysis of Si-SiO₂-interfaces

Halbritter, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 150028168
HGF-Programm 13.01.00; LK 01
Seiten 227-33
Erscheinungsvermerk Helms, C.R, [Hrsg.] The Physics and Chemistry of SiO₂ and the Si-SiO₂ Interface New York, N.Y. [u.a.] : Plenum Publ.Co., 1988
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