ARXPS analysis of Si-SiO₂-interfaces
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Kernphysik (IK) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1989 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 150028168 |
| HGF-Programm | 13.01.00 (Vor POF, LK 01) |
| Seiten | 227-33 |
| Erscheinungsvermerk | Helms, C.R, [Hrsg.] The Physics and Chemistry of SiO₂ and the Si-SiO₂ Interface New York, N.Y. [u.a.] : Plenum Publ.Co., 1988 |