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Analysis of laser micromachined inP using synchrotron X-ray topography and synchrotron X-ray topography

McNally, P.J.; Xu, L.; Danilewsky, A.N.; Simon, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 150058749
HGF-Programm 55.01.02 (POF I, LK 01)
Seiten 133-34
Erscheinungsvermerk ANKA - Annual Report 2004 Karlsruhe : Forschungszentrum Karlsruhe GmbH Auch auf CD-ROM
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