Analysis of laser micromachined inP using synchrotron X-ray topography and synchrotron X-ray topography

McNally, P. J.; Xu, L.; Danilewsky, A. N.; Simon, R.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	2004
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 150058749
HGF-Programm	55.01.02 (POF I, LK 01)
Seiten	133-34
Erscheinungsvermerk	ANKA - Annual Report 2004 Karlsruhe : Forschungszentrum Karlsruhe GmbH Auch auf CD-ROM