Atomic-scale processes of tribomechanical etching studied by atomic force microscopy on the layered material NbSe₂

Kemnitzer, R.; Koch, Th.; Küppers, J.; Lux-Steiner, M.; Schimmel, Th.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	2004
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 150059933
HGF-Programm	42.02.02 (POF I, LK 01) Nanoskalige Schichtsysteme u.Oberflächen
Seiten	495-502
Erscheinungsvermerk	Bhushan, B. [Hrsg.] Fundamentals of Tribology and Bridging the Gap between the Macro- and Micro/Nanoscales Dordrecht [u.a.] : Kluwer Acad.Publ., 2001