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Atomic-scale processes of tribomechanical etching studied by atomic force microscopy on the layered material NbSe₂

Kemnitzer, R.; Koch, Th.; Küppers, J.; Lux-Steiner, M.; Schimmel, Th.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 150059933
HGF-Programm 42.02.02 (POF I, LK 01)
Seiten 495-502
Erscheinungsvermerk Bhushan, B. [Hrsg.] Fundamentals of Tribology and Bridging the Gap between the Macro- and Micro/Nanoscales Dordrecht [u.a.] : Kluwer Acad.Publ., 2001
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