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Rack, A.; Ferrero, C.; Godehardt, M.; Mirone, A.; Ohser, J.; Reinhart, C.

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seit 20.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	2008
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-0-19-921324-5 KITopen-ID: 150072990
HGF-Programm	43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Seiten	449-51
Erscheinungsvermerk	Appendix B to Banhart, J. [Hrsg.] Advanced Tomographic Methods in Materials Research and Engineering Oxford [u.a.] : Oxford Univ.Press, 2008 (Monographs on the Physics and Chemistry of Materials)