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Examples on CD-ROM

Rack, A.; Ferrero, C.; Godehardt, M.; Mirone, A.; Ohser, J.; Reinhart, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-19-921324-5
KITopen ID: 150072990
HGF-Programm 43.01.05; LK 01
Seiten 449-51
Erscheinungsvermerk Appendix B to Banhart, J. [Hrsg.] Advanced Tomographic Methods in Materials Research and Engineering Oxford [u.a.] : Oxford Univ.Press, 2008 (Monographs on the Physics and Chemistry of Materials)
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