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Dynamic force microscopy and spectroscopy using the frequency-modulation technique in air and liquids

Hölscher, A.; Ebeling, D.; Schmutz, J.E.; Schäfer, M.M.; Anczykowski, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-642-03534-0
KITopen ID: 150079215
HGF-Programm 43.03.09; LK 01
Seiten 3-21
Erscheinungsvermerk Bushan, B. [Hrsg.] Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology Berlin [u.a.] : Springer, 2010 (Nanoscience and Technology)
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