Dynamic force microscopy and spectroscopy using the frequency-modulation technique in air and liquids

Hölscher, A.; Ebeling, D.; Schmutz, J. E.; Schäfer, M. M.; Anczykowski, B.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-3-642-03534-0 KITopen-ID: 150079215
HGF-Programm	43.03.09 (POF II, LK 01) Mechanische Eigenschaften
Seiten	3-21
Erscheinungsvermerk	Bushan, B. [Hrsg.] Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology Berlin [u.a.] : Springer, 2010 (Nanoscience and Technology)