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Atomic force microscopy and spectroscopy. Scanning probe techniques

Hölscher, H.; Falter, J.; Schirmeisen, A.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/0471266965.com150
Dimensions
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-471-26696-9
KITopen-ID: 150096250
HGF-Programm 43.13.01 (POF II, LK 01) Structuring
Erscheinungsvermerk Kaufmann, E.N. [Hrsg.] Characterization of Materials Hoboken, N.J. : John Wiley and Sons, 2.Ed., 2012 Online Resource
Nachgewiesen in Dimensions
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