KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Atomic force microscopy and spectroscopy. Scanning probe techniques

Hölscher, H.; Falter, J.; Schirmeisen, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1002/0471266965.com150
ISBN: 978-0-471-26696-9
KITopen ID: 150096250
HGF-Programm 43.13.01; LK 01
Erscheinungsvermerk Kaufmann, E.N. [Hrsg.] Characterization of Materials Hoboken, N.J. : John Wiley and Sons, 2.Ed., 2012 Online Resource
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page