Atomic force microscopy and spectroscopy. Scanning probe techniques
Hölscher, H.
; Falter, J.; Schirmeisen, A.
; Falter, J.; Schirmeisen, A.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-471-26696-9 KITopen-ID: 150096250 |
| HGF-Programm | 43.13.01 (POF II, LK 01) Structuring |
| Erscheinungsvermerk | Kaufmann, E.N. [Hrsg.] Characterization of Materials Hoboken, N.J. : John Wiley and Sons, 2.Ed., 2012 Online Resource |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions |