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Efficient algorithms for system diagnosis with both processor and comparator faults

Chen, Yinong; Buecken, Winfried; Echtle, Klaus


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 157493
Erscheinungsvermerk IEEE trans. on parallel and distr. syst. 4 (1993) S. 371-381.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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