Ergebnisvalidierung und nebenläufige Hardwarefehlererkennung mittels systematisch erzeugter Diversität
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 3-528-05344-5 urn:nbn:de:swb:90-AAA1575936 KITopen-ID: 157593 |
| Erschienen in | Verlaessliche Informationssysteme. Hrsg.: G. Weck |
| Verlag | Vieweg Verlag |
| Seiten | 135 - 162 |
| Serie | DuD-Fachbeitraege ; 16 |