Analyse und Vorhersage der Tauglichkeit von Absorberkammern für EMV-Meßzwecke
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 158294 |
| Erscheinungsvermerk | In: Elektromagnetische Verträglichkeit. Hrsg.: H.R. Schmeer. Berlin 1994. S. 269-278. |