KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Analyse und Vorhersage der Tauglichkeit von Absorberkammern für EMV-Meßzwecke

Bornkessel, Christian; Uhlmann, Hermann



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 158294
Erscheinungsvermerk In: Elektromagnetische Verträglichkeit. Hrsg.: H.R. Schmeer. Berlin 1994. S. 269-278.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page