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Analyse und Vorhersage der Tauglichkeit von Absorberkammern für EMV-Meßzwecke

Bornkessel, Christian; Uhlmann, Hermann



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 158294
Erscheinungsvermerk In: Elektromagnetische Verträglichkeit. Hrsg.: H.R. Schmeer. Berlin 1994. S. 269-278.
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