Depth-resolved X-ray analysis of residual stresses in graded PVD coatings of Ti(C,N)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) Fakultät für Maschinenbau – Institut für Keramik im Maschinenbau (IKM) Institut für Materialforschung (IMF) Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0044-3093, 1862-5282, 2195-8556 KITopen-ID: 158699 |
| HGF-Programm | 42 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | International journal of materials research |
| Verlag | Carl Hanser Verlag |
| Band | 90 |
| Heft | 10 |
| Seiten | 780-787 |