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Depth-resolved X-ray analysis of residual stresses in graded PVD-coatings of Ti(C,N)

Duemmer, Tobias; Eigenmann, Bernd; Stueber, M.; Leiste, Harald; Loehe, Detlef; Mueller, Hermann; Voehringer, Otmar



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Keramik im Maschinenbau (IKM)
Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 158699
HGF-Programm 42 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Zeitschrift für Metallkunde
Band 90
Seiten 780-87
Erscheinungsvermerk Z. f. Metallkde. 90 (1999) S. 780-787.
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