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Röntgenographische Analyse der Eigenspannungs- und Gitterkonstantentiefenverläufe in gradierten PVD-Schichten auf Stahlsubstraten

Duemmer, Tobias; Kraft, Jens; Eigenmann, Bernd; Loehe, Detlef



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Keramik im Maschinenbau (IKM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1999
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 158799
Erscheinungsvermerk Jber., HASYLAB am DESY 1998 (1999) S. 925-926.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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