Optimized test cost using fault probabilities
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 158893 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the 3rd European Test Conference, Rotterdam 1993. Washington, DC 1993. S. 188-193. |