Optimization of deterministic test sets using an estimation of product quality
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 158993 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the 2nd Asian Test Symposium, Peking, China 1993. S. 119-124. |