Partitioning and hierarchical description of self-testable designs
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1993 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 159093 |
| Erscheinungsvermerk | In: VLSI'93. Proceedings of the International Conference on Very Large Scale Integration, Grenoble 1993. S. 3.2.1-3.2.10. |