Deflektometrische Defekterkennung auf lackierten Oberflächen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 3-8322-0639-6 KITopen-ID: 16092002 |
| Erschienen in | XVI. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., 30. September - 2. Oktober 2002. Hrsg.: W.-J. Becker |
| Verlag | Shaker Verlag |
| Seiten | 51 - 64 |
| Serie | Messtechnik und Sensorik |