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Deflektometrische Defekterkennung auf lackierten Oberflächen

Kammel, Sören



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-8322-0639-6
KITopen-ID: 16092002
Erschienen in XVI. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., 30. September - 2. Oktober 2002. Hrsg.: W.-J. Becker
Verlag Shaker Verlag
Seiten 51 - 64
Serie Messtechnik und Sensorik
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