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Automated optimization of measurement setups for the inspection of specular surfaces

Kammel, Sören


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-8194-4295-X
ISSN: 0038-7355
KITopen-ID: 16102002
Erschienen in Machine vision and three-dimensional imaging systems for inspection and metrology II. Ed.: K.G. Harding
Verlag Bellingham
Seiten 199 - 206
Serie Proceedings / SPIE ; 4567
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