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Parametrisierte Speicherzellen zur Unterstuetzung des Selbsttests mit optimierten und konventionellen Zufallsmustern

Kesel, Frank; Wunderlich, Hans-Joachim



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1989
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 161089
Erscheinungsvermerk In: Entwurf integrierter Schaltungen. 4. E.I.S.-Workshop. Hrsg.: H. Heckl. Sankt Augustin 1989. S. 75-84. (GMD-Studien. 155.)
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