Parametrisierte Speicherzellen zur Unterstuetzung des Selbsttests mit optimierten und konventionellen Zufallsmustern
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1989 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 161089 |
| Erscheinungsvermerk | In: Entwurf integrierter Schaltungen. 4. E.I.S.-Workshop. Hrsg.: H. Heckl. Sankt Augustin 1989. S. 75-84. (GMD-Studien. 155.) |