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Methoden der Testvorbereitung

Wunderlich, Hans-Joachim; Schulz, Michael



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1989
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 161689
Erscheinungsvermerk In: Mikroelektronik fuer die Informationsverarbeitung. Berlin 1989. S. 55-62. (ITG-Fachberichte. 110.)
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