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The design of random-testable sequential circuits

Wunderlich, Hans-Joachim



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 161789
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. 19th International Symposium on Fault Tolerant Computing, FTCS-19, IEEE, Chicago 1989.
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