The pseudo-exhaustive test of sequential circuits
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1989 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 161889 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. IEEE International Test Conference. Washington, DC 1989. |