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The pseudo-exhaustive test of sequential circuits

Wunderlich, Hans-Joachim; Hellebrand, Sybille



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 161889
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. IEEE International Test Conference. Washington, DC 1989.
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