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Analise de modelos numericos de elevacao derivados de laser scanner para o monitoramento urbano

Centeno, Jorge Silva; Steinle, Eberhard; Voegtle, Thomas


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2000
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 16312000
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. Congresso Brasileiro de Cadastro Technico Multifinalitario, COBRAC 2000, Univ. Fed. de Santa Catarina, Florianopolis, Brasil 2000.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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