Patterning of high Tc films for critical current measurements

Schomburg, W. K.; Heidinger, M.; Noether, G.; Reiner, J.; Windte, V.; Schauer, W.; Kadel, K.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1991
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 16591
Erscheinungsvermerk	Cryogenics 31 (1991) S. 366-368.
Bemerkung zur Veröffentlichung	Sonderdrucknummer 91S237