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Tiefenaufgelöste röntgenographische Bestimmung von Eigenspannungen und Gitterkonstanten in Ti(C-N)-Gradientenschichten

Duemmer, Tobias; Ott, Michael; Schreieck, Berthold; Eigenmann, Bernd; Loehe, Detlef



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1998
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 167098
Erscheinungsvermerk Jber., HASYLAB, Hamb. Synchrotronstrahlungslab. 1997 (1998) S. 941-942.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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