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Applying Bayesian networks to fault diagnosis

Kirsch, Harald; Kroschel, Kristian



Zugehörige Institution(en) am KIT Deutsch-Französisches Institut für Automation und Robotik - Teilinstitut Karlsruhe (IAR -Teilinst. KA)
Institut für Nachrichtentechnik - Communications Engineering Lab (CEL)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 167694
Erschienen in Proceedings. 3rd IEEE Conference on Control Application, CCA '94, Glasgow 1994
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 895-900
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. 3rd IEEE Conference on Control Application, CCA '94, Glasgow 1994. S. 895-900.
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