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X-ray analysis of depth distribution of residual stresses and stress-free lattice parameter in PVD-gradient coatings of Ti(C,N) on cemented carbid

Kaempfe, Andreas; Predecki, Paul K.; Eigenmann, Bernd



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 168098
Erscheinungsvermerk X-ray anal. 40 (1998) S. 498-514.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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