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Non local inelastic lifetime in micro-ohm tunneling junctions

Compans, Elmar; Bergmann, Gerd


Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1990
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 168290
Erscheinungsvermerk Z. f. Phys. B, Condensed matter 79 (1990) S. 203-210.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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