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Effect of thermal oxidation on indentation and scratching of single-crystal silicon carbide on microscale

Pöhlmann, Klaus; Bhushan, Bharat; Zum Gahr, Karl-Heinz


Originalveröffentlichung
DOI: 1016/S0043-1648(99)00318-X
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau – Institut für Keramik im Maschinenbau (IKM)
Institut für Materialforschung (IMF)
Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde II (IWK II)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0043-1648, 1873-2577
KITopen-ID: 16922000
HGF-Programm 42 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Wear
Verlag Elsevier
Band 237
Heft 1
Seiten 116-128
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