An analytical correction procedure for quantitative microanalysis
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1965 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170001302 |
| Erscheinungsvermerk | Proceedings IV congres international sur l'Optique des Rayons X et la Microanalyse, 7.-10.9.1965, Orsay |