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An analytical correction procedure for quantitative microanalysis

Theisen, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1965
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 170001302
Erscheinungsvermerk Proceedings IV congres international sur l'Optique des Rayons X et la Microanalyse, 7.-10.9.1965, Orsay
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