Stereometrische Gefuegeanalyse mit Universal-Mikroskop und Quantimet
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 1969 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 170003105 |
| Erscheinungsvermerk | Vorgetrag. a.d. Metallographie-Tagung d. Deutschen Ges. f. Metallkunde in Giessen, 9.-11.10.1968 KFK-845 (Maerz 69): G. Ondracek [Hrsg.]: Bildanalyse mit dem Quantimet. 8 S. |