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Stereometrische Gefuegeanalyse mit Universal-Mikroskop und Quantimet

Jesse, A.; Ondracek, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1969
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 170003105
Erscheinungsvermerk Vorgetrag. a.d. Metallographie-Tagung d. Deutschen Ges. f. Metallkunde in Giessen, 9.-11.10.1968 KFK-845 (Maerz 69): G. Ondracek [Hrsg.]: Bildanalyse mit dem Quantimet. 8 S.
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