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Praktische Anwendung der Tiefendosismessung in silberaktivierten Phosphatglasdosimetern

Kiefer, H.; Piesch, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Abteilung Strahlenschutz und Sicherheit (ASS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1969
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 170003125
Seiten 490-500
Erscheinungsvermerk 4. Jahrestagung des Fachverbandes fuer Strahlenschutz e.V., Berlin, 28.-30. Mai 1969. Tagungsbericht
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